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ICP光譜儀發(fā)射常見問(wèn)題有哪些？我們今天就來(lái)簡(jiǎn)單的了解一下吧。
１、影響等離子體溫度的因素有：
載氣流量：流量增大，中心部位溫度下降；
載氣的壓力：激發(fā)溫度隨載氣壓力的降低而增加；
頻率和輸入功率：激發(fā)溫度隨功率增大而增高，近似線性關(guān)系，在其他條件相同時(shí)，增加頻率，放電溫度降低；
第三元素的影響：引入低電離電位的釋放劑（如T1）的等離子體，電子溫度將增加。
２、電離干擾的消除和抑制
原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產(chǎn)生的干擾。它使火焰中分析元素的中性原子數(shù)減少，因而降低分析信號(hào)。
在標(biāo)準(zhǔn)和分析試樣中加入過(guò)量的易電離元素，使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩(wěn)定在相當(dāng)高的水平上，從而抑制或消除分析元素的電離。
此外，由于溫度愈高，電離度愈大，因此，降低溫度也可減少電離干擾。
３、試劑酸度對(duì)ICP-AES法的干擾效應(yīng)主要表現(xiàn)在哪些方面？
提升率及其中元素的譜線強(qiáng)度均低于水溶液；
隨著酸度增加，譜線強(qiáng)度顯著降低；
各種無(wú)機(jī)酸的影響并不相同，按下列順序遞增：HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4；譜線強(qiáng)度的變化與提升率的變化成正比例。
４、ICP-AES法中的光譜干擾主要存在的類型
譜線干擾；
譜帶系對(duì)分析譜線的干擾；
連續(xù)背景對(duì)分析譜線的干擾；
雜散光引起的干擾。
５、ICP-AES法分析中靈敏度漂移的校正
在測(cè)定過(guò)程中，氣體壓力改變會(huì)影響到原子化效率和基態(tài)原子的分布；
另外，毛細(xì)管阻塞、廢液排泄不暢，會(huì)使溶液提升量和霧化效率受到影響；
以及電壓變化等諸多因素都會(huì)使靈敏度發(fā)生漂移，其校正方法可每測(cè)１０個(gè)樣品加測(cè)一個(gè)與樣品組成接近的質(zhì)控樣，并根據(jù)所用儀器的新舊程度適當(dāng)縮短標(biāo)準(zhǔn)化的時(shí)間間隔。
６、ICP分析中如何避免樣品間的互相沾污？
測(cè)量時(shí)，不要依次測(cè)量濃度懸殊很大的樣品，可把濃度相近的樣品放在一起測(cè)定，測(cè)定樣品之間，應(yīng)用蒸餾水或溶劑沖洗之。
７、ICP-AES法中，用來(lái)分解樣品的酸，必須滿足的條件
盡可能使各種元素迅速、完全分解；所含待測(cè)元素的量可忽略不計(jì)；
分解樣品時(shí)，待測(cè)元素不應(yīng)損失；與待測(cè)元素間不形成不溶性物質(zhì)；
測(cè)定時(shí)共存元素的影響要小；不損傷霧化器、炬管等。
８、在ICP-AES法中，為什么必須特別重視標(biāo)準(zhǔn)溶液的配置？
不正確的配置方法將導(dǎo)致系統(tǒng)偏差的產(chǎn)生；
介質(zhì)和酸度不合適，會(huì)產(chǎn)生沉淀和渾濁；
元素分組不當(dāng)，會(huì)引起元素間譜線干擾；
試劑和溶劑純度不夠，會(huì)引起空白值增加、檢測(cè)限變差和誤差增大。
以上是由ICP光譜儀的小編整理提供僅供參考，如需詳細(xì)了解請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系我們。
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