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ICP-AES法在運用上還有一定的缺點，今天ICP光譜儀小編為您介紹ICP-AES法的缺點，和ICP-AES技術也在不斷更新后在ICP光譜儀上的應用。
ICP-AES法是20世紀60年代提出、70年代迅速發(fā)展起來的一種新型分析技術。在分析上的應用領域雖然十分廣泛，但是還存在著以下缺點：
(1)對于固體樣品一般需預先轉化為溶液，而這二過程往往使檢出限變高。
(2)作氣體氬氣消耗量大導致儀器運行成本增加。
(3)進樣系統(tǒng)霧化效率不高導致部分元素在痕量時無法檢出。
(4)ICP光譜儀發(fā)射光譜法只能測定樣品中元素的總量，不能對元素進行價態(tài)分析，除非和其他分析儀器聯(lián)用。
(5)RF發(fā)生器電路較復雜，容易產(chǎn)生故障導致儀器停機，并且儀器價格比較高、對實驗室要求也高、需要單獨的電源和接地以及排風系統(tǒng)，所以前期投入比較大。
但是隨著科學技術的日新月異的發(fā)展，ICP-AES技術也在不斷跟新，上述缺點正在慢慢改善。
虛擬儀器技術的應用可使ICP-AES儀器制造廠家維護人員遠程連續(xù)觀測等離子體變化，如果發(fā)現(xiàn)等離子體有異常現(xiàn)象，可在第一時間通知用戶，使用戶采取相應措施來減少儀器故障的發(fā)生，對儀器實行了遠程診斷。用戶通過觀測相機，可以在儀器電腦上實時觀測等離子體的工作狀態(tài)，可以實時調(diào)節(jié)不同的觀測位置，進行不同比例縮放，可以錄像，得到等離子體的實時狀態(tài)過程。還可以通過連續(xù)的等離子觀測，使遠程診斷功能成為可能，以最大程度增加正常運行時間。通過該觀測相機，可以讓操作者清楚地了解樣品溶液導致的等離子體變化過程及狀態(tài)，簡化方法建立過程，大大方便操作者對檢測方法的開發(fā)和儀器工作狀態(tài)的判斷。
電子霧化器系統(tǒng)通過電子震動原理和惰性噴霧頭，可使形成的霧滴直徑不大于6um，這樣大小的霧滴可快速干燥、霧化和電離，和傳統(tǒng)霧化系統(tǒng)相比霧化效果更佳，并為儀器的分析測試的檢出限降低了2倍～4倍。該霧化器所產(chǎn)生的氣溶膠顆粒具有強烈的一致性并且粒徑完全控制在不超過10um以下的很窄范圍，不再需要高壓霧化氣流，可以在現(xiàn)有基礎上提高了4倍的信噪比，對于微量元素的檢測有更大的好處。
平板等離子技術的應用代替了螺旋負載線圈系統(tǒng)，氬氣的消耗量減少了近1/2。該技術和傳統(tǒng)技術相比，可形成同樣強健、同樣耐高鹽基體的等離子體。這種全新的射頻方式還可使RF高頻發(fā)生器免維護，最大程度降低了操作成本并對使用性能沒有影響，該技術拋棄了傳統(tǒng)的螺旋線圈的設計。在傳統(tǒng)的螺旋線圈設計中，線圈需要使用循環(huán)水進行冷卻，存在多種由于循環(huán)水導致的問題，而新的平板等離子體技術采用兩塊對稱的長壽命鋁板，無需進行任何冷切，不存在更換問題。
采用光譜最佳化程序自動尋C.N.Ar線進行峰位校正光譜方程及波長的準確性來代替?zhèn)鹘y(tǒng)的汞燈描跡定位技術，確保波長重復性，從而確保了更好的分析重復性。
采用高刻線全息光柵以提高光學系統(tǒng)質(zhì)量：高刻線(最高可達4960刻線/mm)、大面積的離子蝕刻閃耀全息光柵，可使ICP儀器具有很高的分辨率，具有光強高、散射光極低的光學質(zhì)量
以上就是ICP-AES法的缺點，和ICP-AES技術也在更新后在ICP光譜儀上的應用。
